北京科技大学主页平台管理系统匡健磊--中文主页-- Jianlei Kuang and Wenbin Cao. Stacking faults induced high dielectric permittivity of SiC wires. Applied Physics Letters, 2013, 103: 112906. (IF: 3.302, Editor's Picks for Nov. and Dec., 2013)

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个人信息

匡健磊Kuangjianlei

副教授

硕士生导师

毕业院校：北京科技大学

学科：材料学

学历：研究生

学位：博士

所在单位：材料科学与工程学院

电子邮箱：

同专业硕导

论文成果

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Jianlei Kuang and Wenbin Cao. Stacking faults induced high dielectric permittivity of SiC wires. Applied Physics Letters, 2013, 103: 112906. (IF: 3.302, Editor's Picks for Nov. and Dec., 2013)

发布时间：2022-04-07 点击次数：

是否译文：否

上一条：Jianlei Kuang and WB Cao. Oxidation Behavior of SiC Whiskers at 600-1400 oC in Air, Journal of the American Ceramic Society, 2014, 97 [9]: 2698-2701. (IF: 2.61)

下一条：Jianlei Kuang and Wenbin Cao. Silicon Carbide Whiskers: Preparation and High Dielectric Permittivity. Journal of the American Ceramic Society, 2013, 96 (9): 2877-2880. (IF: 2.61)