北京科技大学主页平台管理系统张师平--中文主页-- 张师平,吴平,闫丹,陈森,邱宏.利用阻抗分析仪测量薄膜材料的介电性质[J].实验技术与管理,2009,26(08):29-31+35

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张师平,吴平,闫丹,陈森,邱宏.利用阻抗分析仪测量薄膜材料的介电性质[J].实验技术与管理,2009,26(08):29-31+35

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