当材料的特征尺寸和载能粒子的平均自由程相当或接近时，其热输运特性相比体材料将发生明显的变化，体现出强烈的尺度效应，界面效应也将显著增强，甚至出现热整流等新现象。但由于纳米尺度材料及界面的实验测量非常困难，现有报道的研究工作主要集中在数值模拟上。本梯队开发适用于微/纳尺度结构材料及界面热测量的新技术，如谐波法、扫描热显微镜、稳态法接触热阻测量系统、探针台测量系统等，覆盖的尺度从几纳米到毫米量级，材料的种类包括线/管材料、薄膜材料、界面材料、多孔材料、液体、粉体及微/纳米复合材料等，并实现纳米量级的热物性分布扫描成像。上述技术及仪器属于完全自主研发，在微纳尺度材料热物性表征仪器领域属于国内领先。对微电子/光电子、航空航天及工业节能等与国计民生紧密相关的工业领域具有重要的推动和支撑的作用。

谐波法热物性测量系统：可以完成8种材型（块体、多孔材料、各向异性材料、流体、粉体、纤维、纳米管、薄膜）、4种热物性参数（热导率、热扩散率、热容、界面热阻）的测量。累计为国内外30余家机构提供热物性检测服务，仪器销售至10家机构。

视频1：谐波法系统介绍

视频2：谐波法小型化介绍

扫描热显微镜：可以实现纳米级空间分辨率的材料表面形貌、粗糙度、热导率、弹性模量、电导率、局部热熔点的测量。对不同维度上具备纳米结构特征的材料如：零维纳米颗粒，二维纳米薄膜，三维纳米多孔材料的热物性原位表征具有重要应用前景。

      稳态法接触热阻测量系统：可以完成块体、多孔材料、薄膜3种材型的热导率及与其他材料的接触热阻的测量，适用于工程应用相关材料的热物性测试需求。

       探针台测量系统：可以完成各类器件的VI、VC、1-t、Vt、光电信号，1/f噪声测试，器件表征测试，RF射频等。适用于微米级尺寸电极的测试需求。